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自20世紀90年代中后期開始,IC(集成電路)封裝技術就不斷向著高度集成化、高性能化、多引線和細間距化方向發(fā)展,并驅使著一些相關測試技術的淘汰和演變。在電子產(chǎn)品小型化的進化壓力推動之下,測試技術也像物種一樣,遵循著“適者生存”的簡單法則。留心看看測試技術的發(fā)展之路,可以幫助我們預測未來。
目前測試技術種類繁多,常用的有手工視覺檢查(manualvisual inspection,簡稱MVI)、在線測試(in-circuittester,簡稱ICT)、自動光學測試(automaticoptiacal inspction,簡稱 AOI)、自動X 射線測試(automatic X-ray inspection,簡稱AXI)、功能測試(functional testere,簡稱FT)等。由于電子組裝行業(yè)的復雜性,很難界定哪些手段是組裝業(yè)所必需的而哪些是不需要的,每種測試技術的應用領域和測試手段都不盡相同。本文由觀瀾PCBA加工廠長科順整理,將重點介紹AOI測試技術,使廣大電子產(chǎn)品供應商對測試加工有更多了解。
AOI測試技術
隨著線路板上元器件組裝密度提高,給電氣接觸測試增加了困難,將AOI技術引入到SMT生產(chǎn)線的測試領域也是大勢所趨。AOI不但可對焊接質量進行檢驗,還可對裸板、焊膏印刷質量、貼片質量等進行檢查。各工序AOI的出現(xiàn)幾乎完全替代人工操作,對提高產(chǎn)品質量、生產(chǎn)效率都是大有作為的。當自動檢測(AOI)時,AOI通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來,供維修人員修整。
現(xiàn)在的AOI系統(tǒng)采用了高級的視覺系統(tǒng)、新型的給光方式、增加的放大倍數(shù)和復雜的算法,從而能夠以高測試速度獲得高缺陷捕捉率。AOI系統(tǒng)能夠檢測下面錯誤:元器件漏貼、鉭電容的極性錯誤、焊腳定位錯誤或者偏斜、引腳彎曲或者折起、焊料過量或者不足、焊點橋接或者虛焊等。AOI除了能檢查出目檢無法查出的缺陷外,AOI還能把生產(chǎn)過程中各工序的工作質量以及出現(xiàn)缺陷的類型等情況收集、反饋回來,供工藝控制人員分析和管理。但AOI系統(tǒng)也存在不足,如不能檢測電路錯誤,同時對不可見焊點的檢測也無能為力。
AOI系統(tǒng)可用于SMT生產(chǎn)線上的多個位置(如圖所示),但有三個檢查位置是主要的:
(1)錫膏印刷之后。如果錫膏印刷過程滿足工藝控制要求,那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括:焊盤上焊錫不足、焊盤上焊錫過多、焊錫偏移、焊錫橋等等。這個階段生成的定量過程控制數(shù)據(jù)包括印刷偏移和焊錫量信息,而有關印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生。
(2)回流焊前。檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個典型的放置檢查AOI的位置,因為這里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機器貼放的大多數(shù)缺陷。在這個位置產(chǎn)生的定量的過程控制信息,提供高速貼片機和精細間距元件貼裝設備校準的信息。這個信息可用來修改元件貼放或表明貼片機需要校準。
(3)回流焊后。在SMT工藝過程的最后步驟進行檢查,這是目前AOI最流行的選擇,因為這個位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯誤。回流焊后檢查提供高度的安全性,因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。
雖然各個位置都可檢測特殊缺陷,但AOI檢查設備應放到一個可以盡早識別和改正最多缺陷的位置。
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